A84xx

紧凑型 MWIR HD Science 相机

Product Variations

A8451 和 A8481 是一款紧凑的 MWIR HD 科学相机,配备 1280 × 1024、8 µm 热 MWIR SLS 探测器,可实现高清图像和制冷型相机灵敏度,同时降低热负荷。基于紧凑的 A-Series平台,两者的像素均为 VGA A-Series相机的四倍,无需重新集成。A8481增加了电动滤光轮和镜头接口,同时两者都支持一系列FLIR精密光学元件。千兆以太网或 CoaXPress 连接可在 FLIR Research Studio 中提供完整的相机控制和完全辐射捕获,从而加快数据分析速度。

• 使用手动、电机对焦、显微镜和宏 FLIR Precision Optics 镜头
最大化测量像素 通过 A8481*
•锁定捕获上的电动 3 位滤光轮•扩展可测量的温度范围,从而通过精确触发和同步 I/O 进行测试
• 分析和记录 1280 × 1024 (1.3 MP) 高清热图像,全辐射
•检测热差 低至 <30 mK NETD
• 使用可选的 5× 显微镜镜头解决低至 1.6 µm/像素的组件级细节
• 通过千兆以太网以 45 Hz 或 CoaXPress
以 60 Hz 传输完全辐射数据 在 Research Studio 的 Connect 中•获取和分析 → 查看 → 记录 → 分析工作流程
在您的团队喜欢的操作系统和语言中•工作
产品概述

高清成像,无需增大机身

A8481 和 A8451 首次将高清热成像引入 A 系列的紧凑机身。

A84xx 系列沿用了 A67xx 系列久经考验的机身设计,提供 1280 × 1024 分辨率,让研究人员无需更换光学器件、固定装置或软件,也无需改变工作流程,即可获得四倍于原来的像素数量。

A8481 配备电动滤光轮和镜头接口,进一步拓展了该平台的功能,支持光学器件自动控制,并提供更广泛的温度测量能力。

由此,您可获得更丰富的热成像细节、更多的测量点,并更快获得科研洞见,而这一切都通过团队熟悉的平台实现。凭借 HOT MWIR SLS 技术、全辐射测温数据记录、精确同步以及对 FLIR 精密光学器件的支持,A84xx 系列帮助工程师和研究人员突破 VGA 分辨率的限制,同时保持 A 系列生态系统的简便易用性。

1280 × 1024
高清热分辨率
4 倍
像素数量(相较于 VGA 分辨率 A 系列热像仪)
35 mK
热灵敏度(NETD,典型值)
45 Hz / 60 Hz
全帧流式传输
所有这些功能,尽在同样的 A 系列机身中。无需重新集成。
我们为何打造这款产品

过去,高清成像意味着更大的热像仪

多年来,从 VGA 热成像升级到高清热成像,意味着必须换用体积更大的热像仪平台。需要新的基座,需要重新布线,需要重新进行集成,还需要新的验证周期。

A84xx 系列改变了这种状况。

A8481 和 A8451 基于 1280 × 1024 高清中波红外 (MWIR) 探测器打造,将高清热成像技术融入了全球研究人员和工程师信赖的紧凑型 A 系列平台之中。

X85xx 高速高清
大幅面高速平台
249 × 157 × 147 毫米  · 6.35 千克
A8581 大幅面高清
大幅面锑化铟高清平台
226 × 102 × 109 毫米 · 2.3 千克
 
A84xx 系列 — 高清,A67xx 机身
紧凑型 A67xx 机箱
226 × 102 × 109 毫米 · 2.3 千克
尺寸与集成

更丰富的热成像细节,
而占用空间没有增加。

大多数高清中波红外相机需要更大的机身,并需要重新进行集成工作。

A84xx 系列沿用了 A 系列的紧凑机箱设计,并提供高清性能,使现有用户能够轻松升级热成像分辨率,同时保持原有工作流程不变。

像素提升 4 倍
能够在不牺牲视场角的前提下,在同一场景中捕捉更多热成像细节。
无需重新集成
可复用现有的固定装置、基座、线缆、光学器件和软件。
紧凑型设计
可在空间受限的实验室、测试舱和研究环境中部署高清成像系统。
自然的升级路径

像素提升四倍,
工作流程不变。

A84xx 的设计初衷是成为 A 系列用户的自然升级路径。
保留
• 现有的 FLIR 精密光学器件
• 现有的基座和固定装置
• 现有的软件环境
• 现有的分析工作流程
• 现有的自动化基础设施
高清阵列的物理尺寸几乎不变(宽度分别为 10.2 毫米和 9.6 毫米)——因此在相同焦距下,视野范围基本保持不变,但采样精度却提高了约一倍。也可选取较小的成像区域,以减少像素数量来提高帧率。
 
640 × 512
327,680 像素 · 15 µm
→
 
1280 × 1024
1,310,720 像素 · 8 µm
 
应用

一台相机,即可满足多种
研究环境的需求。

专为科学发现和测试验证而设计
电子与 PCB 分析
识别元器件级热点,同时兼顾对整块电路板的全局监测。
电池研究
以更精细的空间细节,捕捉电芯、模组和电池包的温度变化。
材料与机械测试
测量较大尺寸样品各处的热行为,同时分辨更细微的特征。
无损检测与检验
以更高的图像密度和更清晰的热成像,检测缺陷并表征其特性。
燃烧与推进
研究火焰、排气流和高温事件中的热结构。
学术研究
一个灵活的平台,可支持多个项目、实验室和部门。
光学

一个基座,适配多种光学镜头 

以更多像素呈现目标细节
A8481/A8451 全面兼容 FLIR 精密光学器件生态系统,让研究人员能够针对几乎任何应用优化空间分辨率。
手动对焦镜头
17 毫米至 200 毫米多种规格可选
电动对焦镜头
直接在 Research Studio 中控制对焦(仅 A8481 型号配备电动对焦镜头)。
显微光学镜头
以低至 1.6 μm/像素的空间采样尺寸捕捉热细节
微距成像
细致分析微小元器件和材料,呈现丰富细节
测量与控制

测量级
热数据

A8481/A8451 将高清成像与严苛研发环境所需的测量精度和控制能力相结合。
主要功能
• 全辐射测量数据采集
• 高精度触发与同步 I/O
• 符合 GigE Vision 和 GenICam 标准
• 支持 CoaXPress
• 开窗模式下的帧率高达 13,733 Hz
• 电动滤片轮,可扩大测量范围
• .ATS 格式的辐射测量录制
软件

由 FLIR 提供支持
Research Studio

通过 FLIR 全系列科研级热像仪中广受信赖的工作流程,采集、记录、分析和共享热数据。
 
连接
通过 GigE 或 CoaXPress 快速连接热像仪。
查看
实时可视化高清热数据。
录制
采集完整的辐射测量数据集。
分析
生成图表、线温分布图、统计数据和报告。
共享
导出热数据、图像和报告,并与同事及利益相关者共享。

规格

核心参数
红外分辨率 1280 × 1024 HD
波长范围 3.4 - 5.1 µm
探测器类型 热 MWIR SLS
光圈数 f/2.5
动态范围 14 位
最大帧频 帧率(全帧率):45 Hz GigE、60 Hz CXP
帧率(窗口):高达 13,733 Hz (32 × 4)
积分时间 最小值:480 ns 至 ~全帧
可选测温范围
成像与光学
传感器制冷 线性、闭合循环(27,000 小时)
像素时钟 50 MHz
光圈数 f/2.5
动态范围 14 位
可操作性 99.5%
可选镜头 手动(3-5 µm):17 mm、25 mm、50 mm、100 mm、200 mm、50 mm 微距
图像时戳 是
子窗口模式 灵活窗口,可缩放至 16 × 4(以 16 列,4 行递增)
探测器类型 热 MWIR SLS
最大帧频 帧率(全帧率):45 Hz GigE、60 Hz CXP
帧率(窗口):高达 13,733 Hz (32 × 4)
波长范围 3.4 - 5.1 µm
热灵敏度_NETD [典型] 35 mK NETD(典型值)
积分时间 最小值:480 ns 至 ~全帧
红外分辨率 1280 × 1024 HD
视频标准 SDI
视频模式 SDI:720p @ 50/59.9,1080p @ 25/29.9
读出模式 异步积分同时读出/异步积分后读出
读出类型 快照
辐射红外视频流 GigE Vision / CoaXPress
近焦镜头/显微镜 1倍,3倍
测量与分析
可选测温范围
测温范围 -20°C 至 3000°C(-4°F 至 5432°F)
精度 2°C 或±读数的 2%
自动增益控制
通讯与数据存储
同步模式 同步输入,同步输出
命令与控件 GigE、CXP、RS-232
常规
尺寸[长×宽×高] 226 × 102 × 109 mm
重量[不带镜头] 2.3 kg
电源
电源 标称电压为 24 V DC(范围为 20 至 28 V);连续电流为 1.4 A,
环境与认证
安装
工作温度范围

附件

Export Restrictions

The information contained in this page pertains to products that may be subject to the International Traffic in Arms Regulations (ITAR) (22 C.F.R. Sections 120-130) or the Export Administration Regulations (EAR) (15 C.F.R. Sections 730-774) depending upon specifications for the final product; jurisdiction and classification will be provided upon request.